日本電子：新型ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計　 JMS-T2000GC AccuTOF(TM) GC-Alphaを販売開始　 - 性能と機能を追求した究極のGC-MS -

日本電子株式会社(代表取締役社長兼COO：大井 泉、証券コード：6951)は、ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計AccuTOF(TM) GCシリーズの最新機種であるJMS-T2000GC “AccuTOF(TM) GC-Alpha”を2021年2月17日から販売開始します。本製品は、新たな質量分析の世界を生み出すことをコンセプトに開発された、性能と機能を追求した究極のGC-MSです。2つのKey Technologyにより質量分析計としての基本性能を大幅に向上させるとともに新世代の自動解析ソフトウェアを標準搭載しました。

JMS-T2000GC AccuTOF(TM) GC-Alpha

製品URL： https://www.jeol.co.jp/products/detail/JMS-T2000GC.html

1. Key Technology 1：新規開発したイオン光学系による高い基本性能と、JEOL独自の多彩なイオン化法
   シリーズ6世代目となるJMS-T2000GC “AccuTOF(TM) GC-Alpha”はイオン光学系の設計を大幅に見直すことにより、従来機種の3倍の質量分解能・質量測定精度を実現しました。AccuTOF(TM) GCシリーズの特長である高感度、高速データ取得能力も合わせて継承しています。広いダイナミックレンジも有しており、定量分析のみならず濃度差の大きい混合試料の定性分析に威力を発揮致します。
   また、AccuTOF(TM) GCシリーズの特長である多彩なイオン化法を継承しており、標準搭載されている電子イオン化(Electron Ionization :EI)の他に、電界イオン化(Field ionization; FI)・電界脱離(Field desorption; FD)・光イオン化(Photoionization; PI)・化学イオン化(Chemical Ionization; CI)などの多彩なソフトイオン化法を搭載することが可能です。イオン源を交換することなく、EIおよびFI/FD測定が可能なEI/FI/FD共用イオン源、EIおよびPI測定が可能なEI/PI共用イオン源をオプションとしてご提供し、より簡便に多彩なイオン化法での測定が可能です。

2. Key Technology 2：簡単・迅速を追求した新世代自動解析ソフトウェア(msFineAnalysis)
   JMS-T2000GC “AccuTOF(TM) GC-Alpha”によって得られた高品質なデータを効率よく解析する統合型自動解析ソフトウェアにより、ハードイオン化法であるEI法と、FI法等のソフトイオン化法により得られたデータを統合解析します。このソフトウェアは未知化合物の定性解析を自動で行うため、分析者の負担が大きく軽減されます。新機能として2検体比較機能(差異分析)も実装しました。Volcano Plotによって視覚的に差異成分を見出すことができ、その後に全成分に対して自動統合解析が行われます。本ソフトウェアはEIイオン化法のみで測定されたデータにも適用可能です。

質量分解能　　　　：30,000 (FWHM @ m/z 614)以上
質量精度　　　　　：1ppm以下 (内部標準法；弊社規定の検査基準による)
質量範囲　　　　　：m/z 4～6,000
スペクトル記録速度：最高50スペクトル／秒
感度　　　　　　　：S/N 300以上(OFN 1pg注入；標準EIイオン源)

40,800,000円

50台/年間

社名　　： 日本電子株式会社(JEOL Ltd.)
所在地　： 〒196-8558　東京都昭島市武蔵野3-1-2
代表者　： 代表取締役社長兼COO　大井 泉
設立　　： 1949年5月30日
資本金　： 100億3,774万円
事業内容： 理科学計測機器(電子光学機器・分析機器、計測検査機器)、
　　　　　 半導体関連機器、産業機器、医用機器の製造・販売・開発研究、
　　　　　 およびそれに附帯する製品・部品の加工委託、保守・サービス、
　　　　　 周辺機器の仕入・販売
URL　　 ： https://www.jeol.co.jp/

日本電子株式会社　科学・計測機器営業本部
お問い合わせフォーム： https://www.jeol.co.jp/support/support_system/contact_products.html