卓上X線回折装置 Aeris(エアリス)に 透過測定機能と薄膜測定機能が搭載し4月より販売開始！

スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部(東京都港区、事業部長：岩橋 明敏)は透過測定機能、薄膜測定機能を搭載した卓上X線回折装置Aeris(エアリス)を2021年4月より販売開始いたします。
URL： https://www.malvernpanalytical.com/jp/products/product-range/aeris-range

卓上型X線回折装置 Aeris(エアリス)

スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部は卓上型粉末X線回折装置Aerisの販売を行ってきましたが、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売します。具体的には、薄膜XRD(GIXRD)測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。
今回のリニューアルで、以前は床置き型の大型装置でのみ対応していた機能が搭載できるようになりました。新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。また従来のAerisでも定評のあったユーザフレンドリな操作性、試料脱落、コンタミネーションの心配のない安心設計、詳細な解析が可能な大型の床置き装置と同じ解析ソフトウエアは、今回のリニューアルでも引き継がれています。

Aerisの蘭国プロダクトマネージャーであるWilijanVissersは次のようにコメントしています。「粉末XRDを打ち破る新しいAerisを発売できることを非常に誇りに思います。新しいAerisは、コンパクトな機器でフロアスタンドシステムのデータ品質を提供することにより、幅広いお客様が詳細な材料分析を実行し、プロセスを最適化できるようにし、科学のフロンティアをさらに前進させるのに役立ちます。」

従来の照射型の粉末X線回折に加え、透過測定に対応したことでより幅広い種類の試料の想定に対応した、X線回折測定を行い、薄膜XRD法(GIXRD)測定機能の搭載により、コーティングや薄膜の分析を行います。
機能範囲を拡大しても、オペレーターはさまざまなアプリケーションを簡単に切り替えることができるため、システムの設定や調整を気にすることなく、研究に集中できます。新しいAerisを使用すると、研究者は詳細で正確なデータをより簡単かつ手頃な価格で取得できるため、製薬および薄膜を用いる電子材料、メタルコーテング層を扱う業界の小規模企業や教育機関が科学研究やプロセス開発に貢献できる可能性が広がります。

会社名　： スペクトリス株式会社
所在地　： 東京都千代田区神田司町2-6 司町ビル
代表者　： 山田 英美
設立　　： 1980年7月30日
URL　　 ： https://www.spectris.co.jp/
事業内容： 精密機器、精密制御機器の開発、販売、サポート
※マルバーン・パナリティカルはスペクトリスのグループ企業です。